جستجو در دستگاه های آزمایشگاه
جستجوی دستگاه بر اساس حروف الفبا
طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس دانشگاه علم و صنعت ایران
سازمان مربوطه :
دانشگاه علم و صنعت ایران
نشانی آزمایشگاه :
تهران- م رسالت- خ هنگام- خ دانشگاه علم و صنعت- دانشگاه علم و صنعت- ساختمان عمران 2- طبقه ی منفی 2- آزمایشگاه مرجع مرکزی
مشخصات طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس :
تاریخ بروزرسانی : ۱۳۹۸/۰۳/۲۵
نام انگلیسی :
X-Ray Fluorescence Spectrometerزمینه های کاربردی
مهندسيخاصیت قابل اندازه گیری :
شیمیاییآخرین وضعیت دستگاه :
آماده سرويس دهيمحدودیت های دستگاه :
شناسایی عناصر سدیم تا اورانیوم
توضیحات :
شناسایی عناصر به صورت نیمه کمی و کیفی تعرفه به صورت آزاد ارائه شده است. تعرفه دانشجویی به شرح زیر است: (با LOI – ابعاد ذرات کمتر از 75 میکرون : دانشجویان علم و صنعت : 600000 / دانشجویان غیر علم و صنعت : 750000) - (بدون LOI – ابعاد ذرات کمتر از 75 میکرون: دانشجویان علم و صنعت : 400000 / دانشجویان غیر علم و صنعت : 550000)
| موارد قابل اندازه گیری با دستگاه | ||
|---|---|---|
| مورد اندازه گیری شده | واحد اندازه گیری | دقت اندازه گیری |
| درصد عناصر | درصد | 1 درصد |
| خدمات قابل ارائه با این دستگاه | ||
|---|---|---|
| شرح خدمت | نحوه ارائه | هزینه (ریال) |
| با LOI – ابعاد ذرات کمتر از 75 میکرون | توسط آزمايشگاه | ۹۰۰,۰۰۰ |
| بدون LOI – ابعاد ذرات کمتر از 75 میکرون | توسط آزمايشگاه | ۷۵۰,۰۰۰ |
| آماده سازی XRF - برای ابعاد ذرات بیشتر از 75 میکرون | توسط آزمايشگاه | ۲۰۰,۰۰۰ |
| زمان سرویس دهی با این دستگاه | |||
|---|---|---|---|
| روز | ساعت شروع | ساعت پایان | توضیحات |
| شنبه | ۸:۰۰ | ۱۶:۰۰ | - |
| یکشنبه | ۸:۰۰ | ۱۶:۰۰ | - |
| دوشنبه | ۸:۰۰ | ۱۶:۰۰ | - |
| سه شنبه | ۸:۰۰ | ۱۶:۰۰ | - |
| چهارشنبه | ۸:۰۰ | ۱۶:۰۰ | - |